Научный журнал
Научное обозрение. Физико-математические науки

РАЗМЕРНЫЕ ЭФФЕКТЫ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКОГО ОТКЛИКА В ТОНКОПЛЕНОЧНЫХ КИСЛОРОДСОДЕРЖАЩИХ СЕГНЕТОЭЛЕКТРИЧЕСКИХ СТРУКТУРАХ

Зубко С.П. 1
1 ФГБОУ ВПО «Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет «ЛЭТИ» им. В.И. Ульянова (Ленина)»
Описана модель размерного эффекта диэлектрического отклика тонких пленок сегнетоэлектриков со структурой перовскита в параэлектрическом и в сегнетоэлектрическом состояниях. Размерный эффект проявляется как в уменьшении диэлектрической проницаемости, так и в смещении точки фазового перехода по сравнению с объемным материалом. Одной из причин размерного эффекта является корреляция поляризации и ее блокировка на границах пленки (нулевые граничные условия). Статья содержит описание моделей зависимости спонтанной и динамической поляризации от температуры и пространственной координаты. Введены критические размеры сегнетоэлектрического образца. Показано, что и толщина пленки, при которой она теряет свои сегнетоэлектрические свойства, и толщина, при которой ее диэлектрический отклик начинает зависеть от размеров, определяются корреляционным параметром материала. Показано, что проявление размерного эффекта в пленке зависит от ориентации вектора поляризации.
SIZE EFFECTS OF DIELECTRIC RESPONSE OF THIN FILM OXYGEN-CONTAINING FERROELECTRIC STRUCTURES

Zubko S.P. 1
1 Saint Petersburg Electrotechnical University “LETI”. Saint-Petersburg

Abstract:
The model of size effect of dielectric response in thin perovskite ferroelectric films has been described in ferroelectric and paraelectric states. Size effect is manifested in the reducing the dielectric constant and shifting the phase transition temperature in comparison with bulk material. One of the reasons of size effect is the correlation of the ferroelectric polarization and freezing of the polarization on the film surface (zero boundary conditions). The article contains description of models of dynamic and spontaneous polarization as a function of temperature and spatial coordinates. The critical sizes of ferroelectric sample have been introduced. The film thickness at which it loses ferroelectric properties and the thickness at which the dielectric response of the film begins to depend on its size are determined by the correlation parameter of the material. The appearance of the size effect in the film depends on the orientation of the polarization vector.

Keywords:

Библиографическая ссылка

Зубко С.П. РАЗМЕРНЫЕ ЭФФЕКТЫ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКОГО ОТКЛИКА В ТОНКОПЛЕНОЧНЫХ КИСЛОРОДСОДЕРЖАЩИХ СЕГНЕТОЭЛЕКТРИЧЕСКИХ СТРУКТУРАХ // Научное обозрение. Физико-математические науки. – 2014. – № 1. – С. 31-31;
URL: http://physics.science-review.ru/ru/article/view?id=33 (дата обращения: 22.05.2019).

Предлагаем вашему вниманию журналы, издающиеся в издательстве «Академия Естествознания»
(Высокий импакт-фактор РИНЦ, тематика журналов охватывает все научные направления)

«Фундаментальные исследования» список ВАК ИФ РИНЦ = 1.252